fischer x-ray xdl 230 菲希爾膜層測厚儀

fischer x-ray xdl 230 菲希爾膜層測厚儀

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X射線鍍層測厚儀簡介：
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。XDL230有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。
由于采用了FISCHER*基本參數法，因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。XDL 230特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

典型的應用領域有：
• 測量大規模生產的電鍍部件
• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
• 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
• 測量印刷線路板
• 分析電鍍溶液

設計理念：
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的X-Y工作臺，馬達驅動的Z軸系統。
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以準確定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。
測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。
帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點的準確調整。
所有的儀器操作，以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成。
XDL型鍍層測厚及材料分析儀作為受*保護的儀器，型式許可*符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法規的規定。

通用規格
設計用途：能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF)， 用于測定超薄鍍層和溶液分析。
元素范圍：從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM® BASIC軟件時，多可同時測定24種元素
設計理念：臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向：由上往下

X射線源
X射線管：帶鈹窗口的鎢管
高壓：  三檔： 30 kV，40 kV，50 kV
孔徑（準直器）： Ø 0.3 mm 可選：Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；長方形0.3 mm x 0.05 mm
測量點尺寸：取決于測量距離及使用的準直器大小， 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的* 小的測量點大小約Ø 0.2mm

X射線探測
X射線接收器：測量距離
比例接收器：0 ~ 80 mm，使用**保護的DCM測量距離補償法

樣品定位
視頻系統：高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦，對被測位置進行監控十字線（帶有經過校準的刻度和測量點尺寸） 可調節亮度的LED照明，激光光點用于準確定位樣品
放大倍數：40x – 160x

電氣參數
電源要求：220 V ，50 Hz
功率:大 120 W （不包括計算機）
保護等級:IP40

尺寸規格
外部尺寸：寬×深×高[mm]：570×760×650
內部測量室尺寸：寬×深×高[mm]：460×495x（參考“樣品大高度”部分的說明）
重量：107 kg

環境要求
使用時溫度：10°C – 40°C
存儲或運輸時溫度：0°C – 50°C
空氣相對濕度：≤ 95 %，無結露

工作臺
設計：手動X/Y平臺
X/Y平臺大移動范圍：95 x 150 mm
可用樣品放置區域：420 x 450 mm
Z軸：馬達驅動
Z軸移動范圍：140 mm
樣品大重量：20kg
樣品大高度：140 mm
激光（1級）定位點：有

計算單元
計算機：帶擴展卡的Windows®計算機系統
軟件  標準： WinFTM® V.6 LIGHT

可選： WinFTM® V.6 BASIC，PDM，SUPER

執行標準

CE合格標準：EN 61010
型式許可：作為受*保護的儀器 型式許可*符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法規的規定。