DualScope FMP20

DualScope FMP20

測量范圍：測量范圍：磁性：0-1200 μm，渦流，0-800 μm,

測量精度：0～100μΜ：0.5μΜ，100～1200μΜ：0.5％

菲希爾FD13H測量探頭 
菲希爾FD13H測量探頭用于根據磁感應和渦流方法來測量涂鍍層厚度，帶微處理芯片的智慧型插入式探頭，彈性測量系統。
電纜長度：1.5m
測量范圍：0-2000 um NF/Fe，0-2000 um Iso/NF
測量誤差：0-50um：≤1um，50-1000um：≤2%，1000-2000um：≤3%
重復精度：0-100um：≤0.5um， 100-2000um：≤0.5%
菲希爾FD13H測量探頭包括：Fe 基材，Al 基材，各兩片標準片

DualScope FMP20特性
• 可連接所有磁感應和電渦流探頭
• 自動識別探頭
• 自動識別基材(FMP20)
• 用戶友好操作界面
• USB接口可連接計算機
• 240x160像素的大尺寸、高對比度顯示器
• 通電后即可開始測量
• 放置探頭后自動獲得測量數據
• 可儲存1000個測量數據
• 獲得測量數據后有聲音信號
• 統計評估功能，例如：平均值、標準偏差、小
值、大值、范圍
• 通過ZERO鍵校零可快速減少樣品形狀的影響
• 另外用1或2片標準片校準儀器，可進一步減少形狀
影響
• 如果材質和幾何形狀差別很大，可通過主校準建立
準確的特征曲線
• 主校準信息儲存在探頭內
• 兩種測量單位：μm和mils
• 儀器自動關機或連續操作的時間可調節

工作原理：

磁感應測量原理

采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術，利用磁阻來調制測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個數量級）。現代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。

電渦流測量原理

高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

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